详细摘要: 边界扫描测试发展于上个世纪90年代,随着大规模集成电路的出现,印制电路板制造工艺向小,薄发展,传统的ICT测试已经没有办法满足这类产品的测试要求。由于芯片的引脚...
产品型号:所在地:深圳市更新时间:2018-05-15 在线留言深圳市卓能达自动化测试技术有限公司
详细摘要: 边界扫描测试发展于上个世纪90年代,随着大规模集成电路的出现,印制电路板制造工艺向小,薄发展,传统的ICT测试已经没有办法满足这类产品的测试要求。由于芯片的引脚...
产品型号:所在地:深圳市更新时间:2018-05-15 在线留言您感兴趣的产品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
仪表网 设计制作,未经允许翻录必究 .
请输入账号
请输入密码
请输验证码
请输入你感兴趣的产品
请简单描述您的需求
请选择省份